日本INSDAC株式会社

ACLおよびDCL実験ボードを備えたM31-1000シリーズ

ACL-7000がサポートする実験
実験1 モノポール増幅回路
実験2 2段増幅回路
実験3 負帰還アンプ回路
実験4 エミッタフォロワー
実験5 差動アンプ
実験6 スケーリング加算アンプ
実験7 積分器と微分器アンプ
実験8 波形発生回路
実験9 アクティブフィルター
実験10 電圧コンパレータ
実験11 ウィーンブリッジ発振器
実験12 統合パワーアンプ
実験13 整流器フィルターと並列調整回路
実験14 直列調整回路
実験15 統合電圧レギュレータ
実験16 RCオシレーター
実験17 LC発振器と周波数選択性増幅器
実験18 電流/電圧変換回路
実験19 電圧/周波数変換回路
実験20 相補型対称パワーアンプ
実験21 波形変換回路
実験22 FETアンプ

DCL-7000でサポートされる実験
実験1 トランジスタスイッチング特性
実験2 TTL統合論理ゲートの論理機能とパラメーターのテスト
実験3 CMOS論理ゲートの論理機能とパラメータテスト
実験4 論理ゲートの機能の確認
実験5 統合論理回路の接続と駆動
実験6 オープンコレクタ出力およびトライステート出力TTLゲイツの応用
実験7 デジタルコンパレータ回路
実験8 演算回路
実験9 パリティジェネレータ
実験10 エンコーダーとデコーダー
実験11 データセレクターとディストリビューター
実験12 ゲートを使用してパルス信号を生成する(マルチバイブレーター)
実験13 単安定トリガとシュミットトリガ(パルス遅延と波形成形回路)
実験14 555タイマーとその応用
実験15 トリガ(フリップフロップ)とその応用
実験16 シフトレジスターICとその応用
実験17 ICカウンターとその応用
実験18 ランダムアクセスメモリ2114Aとその応用
実験19 D/A及びA/Dコンバータ

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